側面頭部エックス線規格写真(セファログラム)重ね合わせ法に用いる平面

側面頭部エックス線規格写真(セファログラム)重ね合わせ法に用いる平面には、主に以下の基準平面がある。

SN平面

Sを原点に重ね合わせることで脳頭蓋を基準とした顎顔面の成長を評価する。

口蓋平面

A点を原点に重ね合わせる。上顎骨の重ね合わせ法に用いられる平面である(102A-89)。

下顎下縁平面

Meを原点に重ね合わせる。下顎の重ね合わせ法に用いられる平面である。